雷達(dá)物位計(jì)在測(cè)量時(shí)會(huì)遇到精度不準(zhǔn)確的問(wèn)題，這是讓很多用戶感到頭疼的問(wèn)題，今天讓我們一起了解影響雷達(dá)物位計(jì)測(cè)量準(zhǔn)確性的因素，同時(shí)再教大家?guī)渍薪鉀Q問(wèn)題的方法，用對(duì)方法，是解決問(wèn)題的關(guān)鍵。

雷達(dá)物位計(jì)具有非接觸式、低防護(hù)、無(wú)掛料、防粘、高性能、高可靠性、使用壽命長(zhǎng)等優(yōu)點(diǎn)。即使在極端溫度、極端壓力、強(qiáng)腐蝕性介質(zhì)、揮發(fā)性介質(zhì)、渦流攪拌、結(jié)垢和揚(yáng)塵等條件下也能進(jìn)行可靠測(cè)量。雷達(dá)物位計(jì)可以測(cè)量溫度高，壓力高介質(zhì)的物位；有毒、有害、易揮發(fā)的不穩(wěn)定介質(zhì)的物位；罐內(nèi)高粘度介質(zhì)(如瀝青，原油等)的物位；物面波動(dòng)劇烈的動(dòng)態(tài)罐介質(zhì)的物位等。

但是，雷達(dá)物位計(jì)在測(cè)量上述介質(zhì)的物位時(shí)會(huì)遇到精度不準(zhǔn)確的問(wèn)題。我們有必要了解一下影響準(zhǔn)確性的因素，順便教大家?guī)渍薪鉀Q方法。第一被測(cè)介質(zhì)的液位波動(dòng)或泡沫散射會(huì)導(dǎo)致信號(hào)減弱，因此需要增加信號(hào)源的功率或增加波導(dǎo)。第二雷達(dá)物位計(jì)接收到的反射波能量的多少取決于被測(cè)介質(zhì)的反射特性，而反射率取決于被測(cè)介質(zhì)的電導(dǎo)率和介電常數(shù)。介電常數(shù)低、電導(dǎo)率低的液體反射信號(hào)微弱，信號(hào)衰減嚴(yán)重。因此，雷達(dá)物位計(jì)測(cè)量物位時(shí)，必須考慮發(fā)射電磁波信號(hào)源的功率。第三當(dāng)被測(cè)介質(zhì)的罐內(nèi)有障礙物時(shí)，會(huì)產(chǎn)生虛假信號(hào)，影響雷達(dá)物位計(jì)的正常工作。出于這個(gè)原因，功能強(qiáng)大的微處理器用于復(fù)雜的信號(hào)處理。同時(shí)，安裝時(shí)盡量避開(kāi)罐內(nèi)障礙物。第四雷達(dá)物位計(jì)的安裝應(yīng)使天線發(fā)射的電磁波盡可能垂直于被測(cè)介質(zhì)的液面，同時(shí)天線應(yīng)接收盡可能多的液面反射波可能的。第五雷達(dá)物位計(jì)在不同的工作條件下，應(yīng)選用不同形狀的天線。為了避免罐壁和罐內(nèi)干擾物的干擾，建議使用導(dǎo)波管來(lái)避免干擾回波。第六雷達(dá)物位計(jì)測(cè)量罐頂時(shí)，液位應(yīng)與天線保持一定距離，以防止被測(cè)介質(zhì)腐蝕天線。同時(shí)，在測(cè)量罐底液位時(shí)，發(fā)射波可能會(huì)穿透罐底液位并撞擊罐底，因此反射波是干涉波。或者當(dāng)罐底呈凹形或圓錐形時(shí)，當(dāng)液位低于此點(diǎn)時(shí)，雷達(dá)物位計(jì)無(wú)法測(cè)量。因此，在信號(hào)處理問(wèn)題上，應(yīng)注意極限值的選擇。

以上這幾招是解決雷達(dá)物位計(jì)測(cè)量問(wèn)題的有效方法，希望可以幫助到您在實(shí)際測(cè)量中解決問(wèn)題，但是本文提及的方法僅供參考，具體還需要根據(jù)自己的實(shí)際情況操作。